日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度生产厂家之一日立仪器（上海）有限公司，目前该公司发布全新日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪 ，有效期至2019年06月21日，公司所在地为上海市浦东新区，详细地址为上海市浦东新区碧波路690号2号楼102室。
日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度简介：
日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪规格参数：
可测量元素：原子序数22(Ti)～83(Bi)
X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶)
管电压： 50kV 管电流： 1.5mA Be 窗
滤波器：一次滤波器：Mo
照射方式：上方垂直照射方式
检测器：比例计数管+半导体检测(无需液氮)
准直器：圆形：Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm
安全性能：样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能
样品图像对焦方式：激光自动对焦
样品观察：彩色CCD摄像头 倍率光学器 卤素灯照明
样品平台大小及承重： FT9400:240mm(W) ×170mm(D) 10kg
FT9450:420mm(W) ×330mm(D) 5kg
FT9455:700mm(W) ×600mm(D) 3kg
重量：FT9400/SFT9450:125kg (不含电脑)
FT9455:130kg(不含电脑)
修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作：配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书)
测量能谱与样品图像保存功能
日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪特点：
1. 日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪搭载有高功率X射线管及双检测器(半导体检测器+比例计数管)
可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。
能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量
可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度
2. 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件
对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域
3. 适用超微小面积的测量
标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。
4. 搭载了可3段切换的变焦距光学系统
5. 搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板(SFT9455)
6. 自动对焦功能
配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。
7. 搭载测试报告自动生成软件
目前日立仪器（上海）有限公司主要所属行业有（制药 仪器仪表 机械 化工 环保）；我司主要经营范围为：分析测量仪器及其零部件的研发、生产，计算机软件的开发、设计、制作，销售自产产品，系统集成的设计、调试、维护，提供相关的技术咨询与售后服务，精密仪器的维修；上述同类产品的批发、进出口、佣金代理（拍卖除外）（涉及行政许可证，凭许可证经营）。
